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X荧光光谱仪优点

a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）

元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)

同时分析元素：同时可以分析30种以上元素

检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级

测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米

测量对象状态：粉末、固体、液体

测量时间：60秒—200秒

工作温度:15℃—30℃

工作湿度：≤70%

工作电压：AC 110V/220V

高效超薄端窗X光管

电制冷UHRD探测器

内置高清晰摄像头

光路增强系统

可自动切换型准直器和滤光片

加强的金属元素感度分析器

外观尺寸： 510×589×350 mm

样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm

重量：55Kg

应用领域

水泥检测

钢铁和有色金属检测

矿料分析

RoHS检测

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